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FIABILITÉ ÉQUIPEMENTS
Single Event Upsets (SEU) & Multiple Bit Upsets (MBU)

 

PRÉSENTATION

Des problèmes ont été observés dans l’électronique spatiale au cours des années 1960, provoqué par des ions ou rayonnement électromagnétique pouvant frapper un dispositif de microélectronique utilisés dans les aéronefs évoluant à des altitudes allant jusqu’à 60 000 pieds.

Ce changement d’état est le résultat de la charge libre créé par ionisation ou à proximité d’un élément (ex: mémoire bits) qui le bloque ou le rend instable. Ce phénomène pouvant créer un défaut dans la production ou l’exploitation du dispositif est appelé un SEU ou une erreur logicielle lorsqu’il concerne 1 bit. L’impact de 2 ou plusieurs bits d’erreurs pouvant se produire sur le même dispositif est appelé un MBU.

 

PUBLIC CONCERNE & PRÉREQUIS

Cette formation s’adresse aux ingénieurs et techniciens concernés par la safety ou le design électronique, matériel et structure. Elle s’adresse à tout équipementier ou systémier produisant des équipements ou composants électroniques. Des connaissances initiales en certification aéronautique sont souhaitées pour cette formation.

 

OBJECTIFS

Ces objectifs seront mis en œuvre en fonction du prérequis recueilli par questionnaire auprès des demandeurs

  • Comprendre le phénomène de radiation cosmique et ses impacts,
  • Connaitre l’environnement normatif et les niveaux d’analyses pour prévenir de tels impacts.

 

CONTENU

Les Radiations cosmiques dans l’atmosphère
Définition du phénomène : Les différentes particules
Causes

Effets et problèmes des radiations atmosphériques
Facteurs d’influences : Latitude, longitude, etc.
Protection naturelle de la terre

 

L’environnement normatif

ARP4754 / ARP4761
JEDEC Standard JESD89

Norme CS 25 -1309
IEC TS 62396

Les différentes analyses
Safety Assessment process
Particular Risk Analysis (PRA)

Analyse qualitative – quantitative

 

Les solutions de prévention

Test Single event effects
Guide pour la conception d’un système
Barrières de protection