Processus IndustrielsAéronautiqueSpatialDéfense ATM / ATCFerroviaire et TransportNucléaire

 

CERTIFICATION

Certification & Safety DO178, DO254, ARP4754A, ARP4761
Safety & Reliability Analysis: ARP4754A ED-79 et ARP4761 ED-135
RTCA DO 254 ED-80
RTCA DO 178C ED-12C, DO248C ED-94C
RTCA DO 330 ED-215
RTCA DO 160G ED-14G
RTCA DO 297 ED-124: Integrated Modular Avionics
Certification aviation générale CS-23
Certification des aéronefs CS-25
Certification avion – performances et qualité de vol CS-25 subpart B Flight
CS-25: Conception cabine / Sécurité
EWIS
Certification des hélicoptères CS-27
Certification des hélicoptères CS-29
(E)TSO (European) Technical Standard Order
CVE: Compliance Verification Engineer
Mise à niveau EASA Part 21J (DOA) 2019
Règlementation EASA Part 21 J (DOA)
Règlementation EASA Part 21 G (POA)
Règlementation EASA Part M
Règlementation EASA Part 145
Règlementation EASA Part 147-66
Législation EASA Règlement 965/2014 AIR OPS
Certification des Drones (UAV)
Certification des ballons à gaz et ballons captifs: CS-31 GB et TGB
Certification des dirigeables (Airship) CS-30 N / CS-30T TAR /HCC
LTAs: Lighter Than Air – Plus Légers que l’Air
Risques ATEX Niveau 1 E/M
Risques ATEX Niveau 2 – Personnes autorisées

MÉTHODOLOGIES

Cyber-sécurité et sécurité pour les systèmes mobiles
Etudes de fiabilité équipements SEU – MBU
ETOPS (Approche Safety)
Sûreté de Fonctionnement (RAMS/FMDS) et ARP 4761 ED-135
Soutien Logistique Intégré (SLI)
MSG-3
Approche Facteurs Humains (EASA)
Méthode SORA
Dossiers de sécurité opérateurs: Safety Management System
Les fondamentaux de la fabrication additive

 

 

 

 

 

FIABILITÉ ÉQUIPEMENTS
Single Event Upsets (SEU) & Multiple Bit Upsets (MBU)

 

PRÉSENTATION

Des problèmes ont été observés dans l’électronique spatiale au cours des années 1960, provoqué par des ions ou rayonnement électromagnétique pouvant frapper un dispositif de microélectronique utilisés dans les aéronefs évoluant à des altitudes allant jusqu’à 60 000 pieds.

Ce changement d’état est le résultat de la charge libre créé par ionisation ou à proximité d’un élément (ex: mémoire bits) qui le bloque ou le rend instable. Ce phénomène pouvant créer un défaut dans la production ou l’exploitation du dispositif est appelé un SEU ou une erreur logicielle lorsqu’il concerne 1 bit. L’impact de 2 ou plusieurs bits d’erreurs pouvant se produire sur le même dispositif est appelé un MBU.

 

PUBLIC CONCERNE & PRÉREQUIS

Cette formation s’adresse aux ingénieurs et techniciens concernés par la safety ou le design électronique, matériel et structure. Elle s’adresse à tout équipementier ou systémier produisant des équipements ou composants électroniques. Des connaissances initiales en certification aéronautique sont souhaitées pour cette formation.

 

OBJECTIFS

Ces objectifs seront mis en œuvre en fonction du prérequis recueilli par questionnaire auprès des demandeurs

  • Comprendre le phénomène de radiation cosmique et ses impacts,
  • Connaitre l’environnement normatif et les niveaux d’analyses pour prévenir de tels impacts.

 

CONTENU

Les Radiations cosmiques dans l’atmosphère
Définition du phénomène : Les différentes particules
Causes

Effets et problèmes des radiations atmosphériques
Facteurs d’influences : Latitude, longitude, etc.
Protection naturelle de la terre

 

L’environnement normatif

ARP4754 / ARP4761
JEDEC Standard JESD89

Norme CS 25 -1309
IEC TS 62396

Les différentes analyses
Safety Assessment process
Particular Risk Analysis (PRA)

Analyse qualitative – quantitative

 

Les solutions de prévention

Test Single event effects
Guide pour la conception d’un système
Barrières de protection