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FIABILITÉ ÉQUIPEMENTS SEU – MBU
Single Event Upsets (SEU) & Multiple Bit Upsets (MBU)


PRÉSENTATION

Des problèmes ont été observés dans l’électronique spatiale au cours des années 1960, provoqué par des ions ou rayonnement électromagnétique pouvant frapper un dispositif de microélectronique  utilisés dans les aéronefs évoluant à des altitudes allant jusqu’à 60 000 pieds. Ce changement d’état est le résultat de la charge libre créé par ionisation ou à proximité d’un élément (ex: mémoire bits) qui le bloque ou le rend instable. Ce phénomène pouvant créer un défaut dans la production ou l’exploitation du dispositif est appelé un SEU ou une erreur logicielle lorsqu’il concerne 1 bit. L’impact de 2 ou plusieurs bits d’erreurs pouvant se produire sur le même dispositif est appelé un MBU.

 

OBJECTIFS

  • Comprendre le phénomène de radiation cosmique et ses impacts, de connaitre l’environnement normatif et les niveaux d’analyses pour prévenir de tels impacts

 

CONTENU

Les Radiations cosmiques dans l’atmosphère
Définition du phénomène : Les différentes particules
Causes
Effets et problèmes des radiations atmosphériques
Facteurs d’influences : Latitude, longitude
Protection naturelle de la terre
L’environnement normatif
ARP 4754 / ARP 4761
JEDEC Standard JESD89
Norme CS 25 -1309
IEC TS 62396
Les différentes analyses
Safety Assessment process
PRA
Analyse qualitative – quantitative
Les solutions de prévention
Test Single event effects
Guide pour la conception d’un système
Barrières de protection